Search

Analysis of Random Variation in Subthreshold FGMOSFET

ชื่องานวิจัยภาษาไทย การวิเคราะห์ของการเปลี่ยนแปลงแบบสุ่มของโฟลทติ้งเกทมอสเฟตในย่านซับเทรโชลด์
ชื่องานวิจัยภาษาอังกฤษ

Analysis of Random Variation in Subthreshold FGMOSFET

ชื่อผู้วิจัย

ผศ. ดร. รวิศวร์ บานชื่น

สาขา สาขาวิศวกรรมศาสตร์และอุตสาหกรรมวิจัย
ปีการศึกษา 2559
ลำดับที่ เนื้อหา ไฟล์ (PDF)
1 บทคัดย่อภาษาไทย 01_thai_abs.pdf
2 บทคัดย่อภาษาอังกฤษ

02_eng_abs.pdf

3 บทความวิจัย

03_article.pdf

You are here: Home บทความวิชาการ Analysis of Random Variation in Subthreshold FGMOSFET